一、質譜儀國產化進程提速，雪迪龍斬獲高校重點采購項目

在2025年秋季啟動飛行時間質譜儀（TOF-SIMS）國產產線之后，雪迪龍于科學儀器領域再次交出亮眼成績單。該公司獨立研制的飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS） 近日成功拿下某高校質譜儀采購標的，將專門用于肽與蛋白質水解產物的表層成分解析。這一中標結果，既體現了業界對雪迪龍科研實力的充分信賴，也意味著我國國產質譜儀在核心技術的自主化、儀器的進口替代方面邁出了具有實質意義的一步，對筑牢關鍵領域供應鏈安全根基、助推國產科學儀器創新發展具有深遠價值。

二、二次離子質譜儀：戰略領域核心裝備，長期受制于進口

二次離子質譜儀（SIMS） 作為飛行時間質譜儀的一大關鍵分支，在半導體、生命科學等戰略行業中的表面材料分析角色。此類儀器因技術集成度高、研發投入周期漫長且資金需求巨大，長期以來被少數海外企業把持，成為我國精密科學儀器領域中典型的“卡脖子"環節。雪迪龍瞄準這一技術空白地帶，持續加碼二次離子質譜儀的自主研發與產業化落地。此番高校項目的中標，正是國產質譜儀打破長期進口依賴、獲得科研領域認可的鮮明信號。

三、飛行時間質譜儀技術剖析：高性價比重器，解鎖表面分析新維度

飛行時間質譜儀（TOF-MS） 將飛行時間測控理念與質譜分析技術融為一體，而二次離子質譜儀則是該技術在表面分析方向上的典型應用形態。雪迪龍所研制的飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS），有機融合了兩類技術的優點，具備高分辨率、高檢出靈敏度和精確質量測定等能力，同時支持質譜成像、二維組分分析以及縱向深度剖析三大功能模塊，已廣泛適用于醫學、細胞學、地質礦物、微電子、材料化學、納米科學、生命科學等眾多前沿領域的科研探索與檢測任務。

其底層運行邏輯清晰：由離子源射出的一次離子束，經一次離子光學系統聚焦并導向后，精準打擊樣品表面；樣品表層受轟擊后激發出二次離子，系統對這些二次離子進行提取與再聚焦，隨后輸送至離子飛行區；在飛行路徑中，不同質荷比（m/z）的二次離子因飛行速度差異而依次分離，通過對分離后離子實施檢測，便可反推出樣品的元素類別、含量以及空間分布特征。

相較于傳統的能量色散X射線光譜（EDX）、俄歇電子能譜（AES）、X射線光電子能譜（XPS）等手段，飛行時間質譜儀在橫向與縱向分辨能力、質譜敏感度等方面均展現出顯著優勢，能夠同步解析元素、同位素及分子信息，提供傳統技術無法覆蓋的專屬分析數據，為前沿科學研究與工業檢測提供了強有力的技術支撐。

四、深耕自主創新，雪迪龍國產質譜儀技術迭代

作為國產質譜儀領域的中堅力量，雪迪龍始終將核心技術的自主化作為戰略目標，在二次離子質譜儀、飛行時間質譜儀等科學儀器方向上保持高強度研發投入。面向未來，企業將繼續深化技術創新，拓展產學研協同合作，持續迭代產品性能，全面縮短與國際一線水平的差距，為我國半導體、生命科學、新材料等關鍵行業提供更優質的國產質譜儀解決方案，助力國產儀器打破技術瓶頸、實現產業化全面替代。